Przy cięciu próbki z większego kawałka materiału należy zadbać o to, aby była ona reprezentatywna dla cech występujących w większej próbce,lub że zawiera wszystkie informacje niezbędne do zbadania interesującej cechy.

Jednym z problemów jest to, że przygotowanie próbki możezmiana mikrostruktury materiałuPoziom uszkodzenia zależy od metody cięcia próbki i samego materiału.

Cięcie szlifowaniempowodują wysoką ilość szkódIstnieje wiele różnych metod cięcia, chociaż niektóre są stosowane tylko dla określonych typów próbek.

iwalitrol zapewniaiCut-864piła diamentowa o niskiej prędkoścido cięcia próbki OM (mikroskop optyczny), SEM (mikroskop elektroniczny skanujący) i nawet TEM (mikroskop elektroniczny transmisyjny).